Questão 30 Comentada - Universidade Estadual Paulista (UNESP) - Assistente de Suporte Acadêmico III Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais Edital nº 177 - VUNESP (2025)

Durante uma análise por microscopia eletrônica de varredura, um feixe de elétrons é direcionado sobre uma amostra sólida, em que sua interação com a superfície espalha os elétrons elasticamente e inelasticamente.

om base nos princípios físicos envolvidos nesse processo, assinale a alternativa correta em relação ao espalhamento dos elétrons e a profundidade de penetração no material.

  • A O espalhamento de elétrons é independente das características do material que está sendo analisado.
  • B A profundidade de penetração é proporcional a densidade e ao número atômico do elemento analisado.
  • C A profundidade de penetração na amostra pelo feixe não apresenta interferência com o espalhamento elástico dos elétrons.
  • D A profundidade de penetração é proporcionalmente dependente da energia incidente do feixe de elétrons.
  • E A penetração dos elétrons na amostra ocorre apenas quando o feixe incide com ângulo de 90° em relação à superfície.