Questões de Instrumentação Industrial

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Técnicas hifenadas com GC-MS (cromatografia a gás e espectrometria de massas) exige cuidados específicos para garantir a integridade da separação cromatográfica e a eficiência de detecção espectrométrica. Considerando os princípios de funcionamento de cada técnica e a interface entre elas, assinale a alternativa correta.

  • A O acoplamento GC-MS é possível porque o espectrômetro de massas opera em condições de alta pressão, compatíveis com a pressão de saída da coluna capilar.
  • B O GC separa compostos líquidos a temperatura ambiente e os injeta diretamente no analisador de massas, que registra suas massas moleculares sem necessidade de ionização.
  • C A interface entre GC e o MS deve manter o vácuo necessário para o funcionamento do espectrômetro, permitindo a transferência eficiente dos analitos na fase gasosa.
  • D A utilização de gases reagentes na cromatografia a gás permite aumentar a sensibilidade da detecção no espectrômetro de massas.
  • E O espectrômetro de massas realiza a separação dos analitos com base em sua volatilidade, complementando a separação realizada pelo GC com base na massa molecular.

Durante uma análise por microscopia eletrônica de varredura, um feixe de elétrons é direcionado sobre uma amostra sólida, em que sua interação com a superfície espalha os elétrons elasticamente e inelasticamente.

om base nos princípios físicos envolvidos nesse processo, assinale a alternativa correta em relação ao espalhamento dos elétrons e a profundidade de penetração no material.

  • A O espalhamento de elétrons é independente das características do material que está sendo analisado.
  • B A profundidade de penetração é proporcional a densidade e ao número atômico do elemento analisado.
  • C A profundidade de penetração na amostra pelo feixe não apresenta interferência com o espalhamento elástico dos elétrons.
  • D A profundidade de penetração é proporcionalmente dependente da energia incidente do feixe de elétrons.
  • E A penetração dos elétrons na amostra ocorre apenas quando o feixe incide com ângulo de 90° em relação à superfície.

Sobre as diferenças fundamentais entre a Microscopia Eletrônica de Transmissão (TEM) e a Microscopia Eletrônica de Varredura (SEM), assinale a alternativa correta.

  • A O TEM é utilizado para obter imagens tridimensionais da superfície das amostras, enquanto o SEM é usado para visualizar a estrutura interna dos materiais.
  • B No TEM, os elétrons interagem principalmente com a superfície da amostra, enquanto, no SEM, os elétrons atravessam a amostra para formar a imagem.
  • C O TEM requer amostras extremamente finas, enquanto o SEM pode ser usado em amostras bulk sem necessidade de cortes ultrafinos.
  • D No TEM, os elétrons secundários são responsáveis pela formação da imagem, enquanto, no SEM, a imagem é gerada por elétrons transmitidos.
  • E O SEM utiliza uma fonte de raios X para gerar imagens, enquanto o TEM baseia-se na luz visível.

Sobre um espectrômetro de massas do tipo triplo quadrupolo (Q1Q2Q3), é correto afirmar:

  • A Em uma varredura de íons produtos, todos os íons que produzem um íon fragmento específico são determinados.
  • B Em uma varredura de íons precursores, os íons produtos resultantes da fragmentação de um determinado precursor são determinados.
  • C Na varredura de perda neutra, os íons são monitorados em todo o intervalo de m/z, pelo primeiro (Q1) e terceiro (Q3) quadrupolos, mas Q3 monitora os íons com um deslocamento de massa constante em relação ao monitoramento em Q1. Esse deslocamento corresponde à perda de um fragmento neutro do íon precursor.
  • D No monitoramento de reação selecionada (do inglês, SRM ou também conhecido pela abreviatura MRM), o primeiro quadrupolo (Q1) filtra precursores de um determinado m/z. Após a colisão com um gás inerte que ocorre no segundo quadrupolo (Q2), todos os fragmentos são analisados simultaneamente no terceiro quadrupolo (Q3).
  • E Em um instrumento do tipo triplo quadrupolo, o segundo quadrupolo (Q2) é versátil e possui várias funções, podendo ser usado como célula de colisão, para análise de íons precursores e análise de íons produtos.

Um técnico precisava trocar um medidor de vazão e consultou o almoxarifado sobre a disponibilidade desse tipo de instrumento.
Sabendo-se que o medidor que será substituído é do tipo direto mássico, que medidor de vazão esse técnico deverá receber do almoxarifado?

  • A Coriolis
  • B Bocal de vazão
  • C Placa de orifício
  • D Tubo de Pitot
  • E Tubo de Venturi